Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection - Fred Stevie - Bøger - Momentum Press - 9781606505885 - 15. september 2015
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection

Fred Stevie

Pris
DKK 519

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 25. nov. - 2. dec.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection

150 pages

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 15. september 2015
ISBN13 9781606505885
Forlag Momentum Press
Antal sider 150
Mål 152 × 229 × 16 mm   ·   390 g
Sprog Engelsk  

Se alt med Fred Stevie ( f.eks. Paperback Bog )