Fortæl dine venner om denne vare:
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection Fred Stevie
Pris
Ft 26.577
Bestilles fra fjernlager
Forventes klar til forsendelse 9. - 16. dec.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection
Fred Stevie
150 pages
| Medie | Bøger Paperback Bog (Bog med blødt omslag og limet ryg) |
| Udgivet | 15. september 2015 |
| ISBN13 | 9781606505885 |
| Forlag | Momentum Press |
| Antal sider | 150 |
| Mål | 152 × 229 × 16 mm · 390 g |
| Sprog | Engelsk |
Se alt med Fred Stevie ( f.eks. Paperback Bog )