Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - Bøger - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516123 - 14. oktober 2021
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Behnam Ghavami
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

Pris
₩ 99.625

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 9. - 15. dec.
Julegaver kan byttes frem til 31. januar

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Findes også som:

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 14. oktober 2021
ISBN13 9783030516123
Forlag Springer Nature Switzerland AG
Antal sider 114
Mål 150 × 220 × 10 mm   ·   209 g
Sprog Tysk  

Se alt med Behnam Ghavami ( f.eks. Hardcover bog og Paperback Bog )