Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - Bøger - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540740827 - 11. januar 2008
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology 2008 edition

Pris
DKK 1.244

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 13. - 19. okt.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

Findes også som:

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

447 pages, 189 black & white illustrations, 27 colour illustrations, 25 black & white tables

Medie Bøger     Hardcover bog   (Bog med hård ryg og stift omslag)
Udgivet 11. januar 2008
ISBN13 9783540740827
Forlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sider 387
Mål 165 × 243 × 21 mm   ·   725 g
Sprog Tysk  
Klipper/redaktør Bhushan, Bharat
Klipper/redaktør Fuchs, Harald
Klipper/redaktør Tomitori, Masahiko

Mere med samme udgiver