Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - Bøger - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642093418 - 30. november 2010
Ved uoverensstemmelse mellem cover og titel gælder titel

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Pris
DKK 922

Bestilles fra fjernlager

Forventes klar til forsendelse 23. - 29. sep.

Vores kunder siger:

14 dages fuld returret
Topvurdering på Trustpilot
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
eller

Ikke bedømt endnu

Findes også som:

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

446 pages, 25 black & white tables, biography

Medie Bøger     Paperback Bog   (Bog med blødt omslag og limet ryg)
Udgivet 30. november 2010
ISBN13 9783642093418
Forlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sider 387
Mål 155 × 235 × 23 mm   ·   674 g
Sprog Tysk  
Klipper/redaktør Bhushan, Bharat
Klipper/redaktør Fuchs, Harald
Klipper/redaktør Tomitori, Masahiko

Mere med samme udgiver